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無損檢測(cè)系列
本產(chǎn)品可精確測(cè)量殘余奧氏體的含量，對(duì)于熱處理的控制是非常重要的，X射線衍射法（XRD）是唯一可以測(cè)量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法，殘余奧氏體的測(cè)量遵循國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ASTM E975-03規(guī)則。
X射線衍射法可以準(zhǔn)確測(cè)定鋼熱處理后殘余奧氏體的含量，能夠?yàn)殇撹F熱處理過程控制提供可靠保證，提高產(chǎn)品質(zhì)量。
X射線衍射法是目前為止測(cè)量鋼體中殘余奧氏體含量最準(zhǔn)確的方法。根據(jù)ASTM E975-03的X射線測(cè)量鋼中殘余奧氏體近晶體隨機(jī)取向的標(biāo)準(zhǔn)方法，ARE X這款儀器能夠很輕松檢測(cè)出鋼體中殘余奧氏體的含量。
X射線發(fā)生器 | 最大輸出功率 | 3KW |
輸出穩(wěn)定性 | <0.01% (電源供給10%的波動(dòng)） | |
最大輸出電壓 | 60KV | |
最大輸出電流 | 60mA | |
電壓步寬 | 0.1KV | |
電流步寬 | 0.1mA | |
波動(dòng) | 0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz | |
預(yù)熱與電路 | 自動(dòng)預(yù)熱和斜坡控制電路 | |
輸入電壓 | 230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 單相 | |
X射線光管 | 光管類型 | 玻璃（可選陶瓷），Mo靶材，細(xì)焦斑（可根據(jù)要求選其他型號(hào)） |
焦斑尺寸 | 0.4 x 8 mm FF (可選0.4 x 12 mm LFF; 1 x 10 mm NF) | |
準(zhǔn)直 | 單毛細(xì)管準(zhǔn)直器:直徑1 - 2毫米 | |
最大輸出電壓 | 3KV | |
測(cè)角儀 | 配置 | 垂直測(cè)角儀 |
掃描角范圍 | 27° < 2θ< 40° | |
角準(zhǔn)確度 | ± 0.001° | |
樣品臺(tái) | 尺寸 | 110 mm x 150 mm |
探測(cè)器 | 類型 | 高分辨率，帶直接耦合（微米）光纖輸入的X射線數(shù)碼攝像儀和帶制冷CCD |
機(jī)體 | 尺寸 | 658 mm X1059 mm X762 mm |
X射線泄露量 | < 1 mSv/年 （按照國(guó)際準(zhǔn)則充分安全屏蔽） | |
處理單元 | 計(jì)算機(jī)類型 | 個(gè)人計(jì)算機(jī) |
控制對(duì)象 | X射線發(fā)生器、探測(cè)器和數(shù)據(jù)庫(kù) | |
基本數(shù)據(jù)處理 | 建立校準(zhǔn)曲線，殘余奧氏體計(jì)算 |
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